고저온 환경 검측 기기

고저온 환경 검측 기기성능 지표는 GB의"전기공학 전자제품 환경 시험 설비 기본 매개변수 검정 방법, 저온, 고온 시험 설비"의 요구에 부합한다;> 시험 A: 저온 시험 방법 GB 2423.1-89(IEC68-2-1);시험 B: 고온 시험 방법 GB 2423.2-89(IEC68-2-2).주로 각종 환경에서 재료의 내열, 내한, 내건성을 검사하는 데 쓰인다.

고저온 환경 검측 기기매개변수:

온도 상승 속도:

RT<-----> 150℃ 약 35분(비선형 공재, 약 3.0℃/분).

RT<----->-20℃ 약 45분(비선형 공재, 약 1.0℃/분).

해석 정밀도: 0.01 ℃.

제어 정밀도: ≤±0.5 ℃.

균일도: ≤2.0 ℃.

(아래 표준 사이즈 류친 외에도 비표준 사이즈를 맞춤형으로 제작할 수 있습니다.)

LQ-GD-80 시험함 내 사이즈(W*D*H) mm: 400*400*500.

LQ-GD-150 시험함 내 사이즈(W*D*H) mm: 500*500*600.

LQ-GD-225 시험함 내 사이즈(W*D*H) mm: 600*500*750.

LQ-GD-408 시험함 내 사이즈(W*D*H) mm: 600*800*850.

LQ-GD-800 시험함 내 사이즈(W*D*H) mm: 1000*800*1000.

LQ-GD-1000 시험함 내 사이즈(W*D*H) mm: 1000*1000*1000.