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영상법 입경 입형 분석기

협상 가능업데이트02/21
모델
제조업체의 성격
생산자
제품 카테고리
원산지 Place of Origin
개요
영상법 입경 입형 분석기 부대 소프트웨어는 최적화된 이치화 알고리즘과 비소음 감소 변두리 식별 기술을 사용하여 반투명 입자를 포함한 각종 샘플의 윤곽을 자동적이고 정확하게 식별하고 분할할 수 있다;동시에 접착 입자 자동 식별 및 제거 기능을 갖추고 중첩 및 이상 데이터 포인트를 효과적으로 필터링하여 입도와 입형 분석 결과의 정확성과 신뢰성을 원천적으로 확보한다.
제품 정보

1. 제품 소개

영상법 입경 입형 분석기정적 이미지 분석 기술을 기반으로 한 입자 표징 기기입니다.고정밀 광학 현미경과 800만 화소 고화질 카메라를 통합하여 0.5마이크로미터에서 4500마이크로미터 범위 내의 입자의 정교한 형태를 선명하게 포착할 수 있으며 스마트 소프트웨어를 통해 입자의 입경 분포 및 가로세로 비율, 원형도 등 20여 가지 형태 매개변수를 자동으로 분석하여 재료화학공업, 생물의약, 신에너지 등 분야의 품질 제어와 연구개발 혁신에 전면적이고 정확한 데이터 지원을 제공한다.
2.영상법 입경 입형 분석기응용 분야

1. 연마재: 예를 들어 탄화규소, 강옥, 금강석, 석류석 등.

2.배터리 재료:구형 흑연가루 등.

3. 메탈 파우더: 구형 알루미늄 파우더, 납 주석 합금 파우더, 기타 안개 금속 파우더.

4. 비금속가루: 유리구슬, 폴리스티렌 등.

5. 바늘가루: 규회석 등.

6. 생물학적 제제: 예를 들어 세포.

7. 식품: 우유, 밀가루 등.

8.기타: 과학연구, 교수 등.

3. 제품 특징

1. HD 이미징 및 지능형 검사
수입 현미경과 800만 화소 소니 센서를 사용하여 1.62μm 소상원과 함께 입자의 미세 형태를 정확하게 포착할 수 있습니다.운반대, 광원 및 초점 거리를 수동으로 조절할 수 있어 조작이 편리하고 고품질 입자 이미지를 안정적으로 얻을 수 있습니다.입경, 페레트경, 타원율, 원도, 가로세로 비율 등 다양한 알고리즘 매개변수를 정확하게 분석하여 입자 형태의 전면적인 표징을 실현할 수 있다.

2.★ 지능화 조작 및 측정
보조 초점 기능을 장착하여 원클릭식 자동 측정 후 입자 상태를 선명하게 관찰할 수 있도록 지원합니다.고정밀 측정판을 기반으로 매개변수 설정을 자동으로 완료하여 수동 입력 오차를 피하고 측정의 정확성과 중복성을 보장합니다.

3. 유연한 측정 및 샘플링 방식
2X, 4X, 10X, 40X 등 4가지 물경을 장착하여 0.5μm~4500μm의 광량측정을 커버하는데 그중 4X 렌즈는 3개 수량급을 뛰여넘을수 있다.인간과 컴퓨터의 상호 샘플링을 지원하며, 샘플링 위치를 자유롭게 선택할 수 있으며, 여러 샘플 유형과 분석 수요에 적응한다.

4.지능형 이미지 처리 및 정확한 분석
계기 부대 소프트웨어는 최적화된 이치화 알고리즘과 비소음 감소 변두리 식별 기술을 채택하여 반투명 입자를 포함한 각종 샘플의 윤곽을 자동적이고 정확하게 식별하고 분할할 수 있다;동시에 접착 입자 자동 식별 및 제거 기능을 갖추고 중첩 및 이상 데이터 포인트를 효과적으로 필터링하여 입도와 입형 분석 결과의 정확성과 신뢰성을 원천적으로 확보한다.

, 기술 매개변수

구성 요소 이름 매개변수
현미경 시스템 외형 치수 198(길이)mm×377(너비)mm×259(높이)mm
호스트 무게 약 5.2kg
전체 시스템 조정 전체 시스템 레벨 테스트 / 튜닝
유리 조각을 싣다 80mm × 80mm × 1mm
적재대 이중 직사각형 기계 적재대, 크기: 155 × 134mm, 눈금이 달린 이동 가능한 슬라이스 클립, 여정: 76 × 40mm
포커스 메커니즘 초점 손잡이 눈금 미세 조정: 2 um/눈금;
초점 다이얼의 미세 조정: 상하 0.2 mm/바퀴;
조조 초점 다이얼 여정: 상하 37.7mm/바퀴;
경대 수직 운동 가능 범위: 초점 평면에서 위로 2mm, 아래로 13mm;
물경 규격 2x, 4x, 10x, 40x
변환기 4구멍 변환기, 기계적 위치 지정
광원 LED는
광학 CFI 무제한 원격 보정 시스템
전원 100-240V AC/0.75A
관찰 기술 투사 명장 관찰
거울대 좌우축: 76mm; 전후축: 30mm;
출력 15.0W
출력 전류 3.0A
소프트웨어 시스템 측정 범위 0.5um ~ 4500um
중복성 오차 ≤ 1% (표본 D50 편차)
정확성 오차 ≤ 1% (표본 D50 편차)
측정 방법 수동 측정, 단일 그래프 분석, 대량 이미지 분석
보고서 출력 약식 및 완판 분석 보고서, 중국어 및 영어 템플릿, 사용자 지정 위치 스토리지
의합 방법 입경 분포, 페레트 장경비, 장폭비, 원도, 타원율, 불규칙도 등
개수 통계 직관적으로 측정된 입자 수
치수 필터링 큰 입자만 분석할 수 있어요
분산 시스템 (옵션) 외형 치수 260mm(길이)×230mm(너비)×220mm(높이)
무게 약 5kg
전원 100-240V AC/0.7A
기압 80kpa의


图像法粒径粒形分析仪