GEKKO 위상 배열 탐지기

모델: GEKKO 위상 배열 프로브
브랜드: M2M
생산지: 프랑스
GEKKO 64x128 위상 배열 휴대용 검사기는 현장 검사를 위해 설계되었으며, 일반적인 초음파 탐지 기술과 위상 배열 기술을 통합합니다.소프트웨어 인터페이스가 간단하고 교정 작업이 빠르며 견고하고 휴대성이 뛰어난 특징을 갖추고 있다.
채널 구성: 64x64128
적용 분야: 항공 우주, 에너지 화학 등 분야 정기 현장 품질 검사
주요 특징: 간단한 조작: 그래픽 마법사, 프로브 자동 인식
적응성 강화: A, B, C, S 스캔;TOFT,DDF
견고한 휴대성: 방수 및 먼지 방지, 터치 스크린, 듀얼 배터리
첨단 기술: 2D 매트릭스 프로브, 실시간 TFM
기타 기술: 보고서 생성, 플렉시블 프로브, CIVA 시뮬레이션, 3D 이미징 시스템설비 주요 기술 특징
견고한 휴대성
GEKKO는 각종 복잡한 작업 환경에 대처할 수 있도록 재역 검사를 위해 설계되었다.장치의 안정적이고 지속적인 작동을 보장하기 위해서는 내부 전자 장치의 차단과 보호가 매우 중요합니다.GEKKO는 완전 밀폐형 마그네슘합금 케이스를 사용했으며, 등은 전문적인 방열 디자인으로 견고하고 밀폐적이며 가볍고 방열이 좋고 미관적인 특징을 고려했다.그리고 모든 인터페이스는 방수 디자인입니다.
간단한 조작
우리는 설비의 조작인터페이스를 될수록 간단하고 직관적으로 하여 조작인원이 짧디짧은 몇시간내에 계기의 각 단계조작을 숙달할수 있도록 하였다.GEKKO 매개변수 구성 인터페이스는 보다 공정하고 논리적인 설계를 사용합니다.조작 인터페이스는 검사 전 준비 작업의 몇 가지 큰 단계로 구성되어 있다: 검사 대기 부품 → 프로브 → 인코더 (또는 스캔기) → 초점 법칙 (초음파 방법) → 갑문 설정 → 폭 (이득) 교정.